绝缘电阻劣化离子迁移测试
- 来源:
- 成都中冷低温科技有限公司
- 日期:
- 2024年3月5日
绝缘电阻劣化离子迁移测试系统搭配HAST非饱和高压加速老化试验箱，可高精度连续监测，快捷评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。
随着电子设备在智能化的方向及小型化、轻量化发展，印制线路板的线路也越来越细，间距越来越小，绝缘层越来越薄，钻孔尺寸也向更小更密的方向发展，并且由于信息传输速度的提升，使得印制板所承受的工作温度也在不断地上升。因此，在印制线路板的质量与可靠性测试中，CAF的测试也就变得越来越重要。
绝缘电阻劣化测试可灵活地同温湿度环境试验箱，HAST试验箱。
主要用途
助焊剂、印刷电路板、光刻胶、钎料、树脂、导电胶等有关印刷电路板、高密度封装的材料
BGA、CSP等精细节距IC封装件
有机半导体相关
电容、连接器等其他电子元器件及材料
各种绝缘材料的吸湿性特性评估
适用标准
JPCA-ET04
IPC -TM-650 _2.6.3F
IPC-TM-650 2.6.3.1E
IPC-TM-650 2.6.3.4A
IPC-TM-650 2.6.3.6
随着电子设备在智能化的方向及小型化、轻量化发展，印制线路板的线路也越来越细，间距越来越小，绝缘层越来越薄，钻孔尺寸也向更小更密的方向发展，并且由于信息传输速度的提升，使得印制板所承受的工作温度也在不断地上升。因此，在印制线路板的质量与可靠性测试中，CAF的测试也就变得越来越重要。
绝缘电阻劣化测试可灵活地同温湿度环境试验箱，HAST试验箱。
主要用途
助焊剂、印刷电路板、光刻胶、钎料、树脂、导电胶等有关印刷电路板、高密度封装的材料
BGA、CSP等精细节距IC封装件
有机半导体相关
电容、连接器等其他电子元器件及材料
各种绝缘材料的吸湿性特性评估
适用标准
JPCA-ET04
IPC -TM-650 _2.6.3F
IPC-TM-650 2.6.3.1E
IPC-TM-650 2.6.3.4A
IPC-TM-650 2.6.3.6