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薄膜镀层价格涂层测厚仪技术人员上门安装服务

产品价格
面议
发布日期
2019年9月27日
联系人
刘经理
手机号码
13338643566
固定电话
13338643566
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镀层测厚仪性能指标:
元素分析范围从硫(S)到铀(U);
一次可同时分析*多24个元素,5层镀层;
分析检出限可达2 PPm,*薄可测试0.005um;
分析含量一般为2 PPm到99.9%;
镀层厚度一般为在50um以内(每种材料有所不同);
任意多个可选择的分析和识别模型;
相互独立的基体效应校正模型;
多变量非线性回收程序;
多次测量重复性可达0.1%;
长期工作稳定性可达0.1%;
温度适应范围为15℃至30℃;
电源:交流220V±5V;(建议配置交流净化稳压电源)。
仪器特点:
镀层测厚仪采用上照式结构,以满足不规则表面样品的测试要求;
采用美国*新型的Si-pin探测器,高分辨率探头使分析结果更加精准;
采用高度定位激光,可自动定位测试高度,以满足不同规格样品的镀层测试。同时定位激光精确定位光斑,以确保测试点与光斑对齐;
高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm;
内置φ0.1mm的小孔准直器,可以满足微小测试点的镀层测试;
多重防辐射泄露设计,具有良好的射线屏蔽作用;
内置高精度移动平台,通过测试软件可视化操作:鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点;
镀层测厚仪采用网口传输数据,数据传输稳定且快。
仪器配置
Si-pin电制冷半导体探测器;
X光管;
高低压电源;
开放式样品腔;
双激光定位装置;
高度传感器;
保护传感器;
铅玻璃屏蔽罩;
信号检测电子电路;
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
安装要求
环境温度要求:15℃-30℃;
环境相对湿度:<70%;
工作电源:交流220±5V;
周围不能有强电磁干扰。
薄膜镀层测厚仪价格
技术参数
1 型号 镀层测厚仪Thick800A
2 外型尺寸 576(W)×495(D)×545(H) mm
3 样品室尺寸 500(W)×350(D)×140(H) mm
4 样品台尺寸 230(W)×210(D)mm
5 Z轴升降平台升降范围 0~140mm
6 平台移动测量范围 50mm(W)×500mm(D)×135mm(H)
7 *分析方法 FP与EC法兼容能量色散X荧光分析方法
8 技术参数
1 型号 Thick800A
2 外型尺寸 576(W)×495(D)×545(H) mm
3 样品室尺寸 500(W)×350(D)×140(H) mm
4 样品台尺寸 230(W)×210(D)mm
5 Z轴升降平台升降范围 0~140mm
6 平台移动测量范围 50mm(W)×500mm(D)×135mm(H)
7 分析方法 FP与EC法兼容能量色散X荧光分析方法
8 测量元素范围 原子序数为16S~92U之间的元素均可测量
9 同时检测元素 一次可同时分析*多24个元素,五层镀层
10 检出限 金属镀层分析*薄可达0.005μm
11 厚度范围 分析镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
12 稳定性 多次测量重复性可达1%
13 检测时间 30-60秒
14 探测器及分辨率 25mm2Be窗口SDD探测器,分辨率140±5eV
15 激发源 50KV/1000uA-W*X光管及高压电源
16 多道分析器 DMCA数字多道分析技术,分析道数4096道
17 准直器和滤光片 固定Ф0.2mm准直器,可选配其他孔径,Al滤光片
18 精确定位 平台电机重复定位精度小于0.1um
19 样品观察 配备CCD多彩摄像头,图像放大可达40倍,实现微小样品清晰定位。
20 平台稳定性 Z轴测试平台采用恒力弹簧平衡重力,实现平台的恒力升降,有效降低Z轴电机负荷,并有效保证了Z轴的垂直度。
21 安全性 双重安全保护设施:防撞激光检测器与样品室门开闭传感器;待机无辐射,工作时辐射水平远低于国际安全标准,且具有软件连动装置。
22 操作环境温湿度 15℃~30℃,≤70%
23 仪器重量 90kg
24 工作电源 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
五、软件优势
采用公司*新的能量色散X荧光FpThick软件,先进的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作。谱图区域采用动态模式,测试时元素观察更直观。
具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
测量元素范围 原子序数为16S~92U之间的元素均可测量
薄膜镀层测厚仪价格
不同镀层材料引进的误差
通常被测镀层材料有铜、铝、铬等,它们的相对磁导率分别为0.99992、1.000008和1.000045。显然,都取为1是相当精确的。因此,它们之间的差异不会引进测量误差。另外,只要合理选择激励频率f(仪器设计时选定),电导率叮的影响是可以得到控制的。
影响涂层测厚仪因素的有关说明
a 基体金属磁性质 磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
b 基体金属电性质 基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
c 基体金属厚度 每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。
d 边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
e 曲率 试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
f 试件的变形 测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。
g 表面粗糙度 基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后,再校对仪器的零点。
g 磁场 周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。
h 附着物质 本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须清除附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
i 测头压力 测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要保持压力恒定。
j 测头的取向 测头的放置方式对测量有影响。在测量中,应当使测头与试样表面保持垂直。
镀层厚度测试方法一般有以下几种方法:
光学显微镜法。适用标准为:GB/T6
利用金相显微镜原理,对镀层厚度进行放大,以便准确的观测及测量。该方法需要对样品进行破坏性分割,对横切面进行放大测量。
、X-ray法(X射线法)。天瑞仪器镀层测厚仪用的就是该方法适用标准为:GB/T16
库仑法,此法一般为仲裁方法。适用标准为:GB/T4
利用适当的电解液阳极溶解精确限定面积的覆盖层,电解池电压的急剧变化表明覆盖层实质上完全溶解,经过所耗的电量计算出覆盖层的厚度。因阳极溶解的方法不同,被测量覆盖层的厚度所耗的电量也不同。用恒定电流密度溶解时,可由试验开始到试验终止的时间计算;用非恒定电流密度溶解时,由累积所耗电量计算,累积所耗电量由电量计累计显示。
天瑞镀层测厚仪使用注意事项
开启仪器电源开关时,动作要慢、不可用力过猛、以免损坏按键。
向样品腔放置样品时,要注意样品的洁净,不可使尘粒掉入其中,否则会污染X光管和探测器窗口,造成测量失准和探头损坏;同时,还要注意轻拿轻放(*好使用镊子等器具取放样品),以免测量窗口的薄膜被破坏。
样品盖需要经常用酒精棉球清洁。
每次开机后,仪器都必须先预热30分钟,然后进行初始化,方可进行正常的检测工作。
测量不同类型的样品时,需从程序栏中选择其对应的选项,才能保证*佳的测量效果。
为使仪器能长期保持工作正常,需定期对仪器的各项参数进行测试,并进行调整。
被测基底厚度的影响
校对仪器时采用的基底厚度多是较大的,而被测件的基底厚度一般变化较大。当被测件基底厚度大寸;IOmm时,其厚度变化对测量结果的影响可以忽略不计。当基底厚度小J二10mm时.其影响就不能忽略,特别是小于3mm时,其影响已可超出测量值的5%。因此,在测量较薄的工件时,必须用和被测基底厚度相当的基底校对仪器。这是因为,当工件较薄时,涡流效应大大降低,使测量结果的数值明显加大。为了解决上迷问题,可以将薄的被测件放在较厚的基底上测量。实践表明,这样作就可以避免涡流效应的影响
薄膜镀层测厚仪价格
镀层测厚仪仪器介绍
镀层测厚仪Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
镀层测厚仪应用领域
铁基----□Fe/Zn, □Fe/Cu,□Fe/Ni,□Fe/Cu/Sn,□Fe/Cu/Au,□Fe/Cu/Ni, □Fe/Cu/Ni/Cr, □Fe/Cu/Ni/Au,□Fe/Cu/Ni/Ag
铜基-----□Cu/Ni,□Cu/Ag,□Cu/Au,□Cu/Sn,□Cu/Ni/Sn,□Cu/Ni/Ag,□Cu/Ni/Au,□Cu/Ni/Cr
锌基-----□Zn/Cu,□Zn/Cu/Ag,□Zn/Cu/Au
镁铝合金----□Al/Cu,□Al/Ni,□Al/Cu/Ag,□Al/Cu/Au
塑胶基体----plastic/Cu/Ni,plastic/Cu/Ni/Cr
测量标准
1国标GB/T 16/ISO 3497:2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
2.美国标准A754/A754M-08
Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
应用优势
1 快速:一般测量一个样品只需要30S~300S,样品可不处理或进行简单处理;
2 无损:物理测量,不改变样品性质;
3 准确:对样品可以精确分析;
4 直观:直观的分析谱图,元素分布一幕了然,定性分析速度快;
5 环保:检测过程中不产生任何废气、废水。
镀层测厚仪仪器配置
1 硬件:主机壹台,含下列主要部件:
(1) X光管 (2) 半导体探测器
(3) 放大电路 (4) 高精度样品移动平台
(5) 高清晰摄像头 (6) 高压系统
(7) 上照、开放式样品腔 (8)双激光定位
(9) 玻璃屏蔽罩
2 软件:天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0
3 计算机、打印机各一台
计算机(品牌,P4,液晶显示屏)、打印机(佳能,彩色喷墨打印机)
4 资料:使用说明书(包括软件操作说明书和硬件使用说明书)、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。
5 标准附件
准直孔:0.1X1.0mm(已内置于仪器中)
参数规格
1 分析元素范围:S-U
2 同时可分析多达5层以上镀层
3 分析厚度检出限*高达0.005μm
4 多次测量重复性*高可达0.01μm
5 定位精度:0.1mm
6 测量时间:30s-300s
7 计数率:1cps
8 Z轴升降范围:0-140mm
9 X/Y平台可移动行程:50mm(W)×50mm(D)
性能特点
1 满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求;
2 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求;
3 高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm;
4 采用高度定位激光,可自动定位测试高度;
5 定位激光精确定位光斑,确保测试点与光斑对齐;
6 鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点;
7 高分辨率探头使分析结果更加精准;
8 良好的射线屏蔽作用;
9 测试口高度敏感性传感器保护;
安装要求:
1 环境温度要求:15℃-30℃
2 环境相对湿度:<70%
3 工作电源:交流220±5V
4 周围不能有强电磁干扰。
质量保证
1. 乙方对所出售本合同所规定的仪器进行终身维修;
2. 软件免费升级:如有软件升级,乙方将免费提供软件升级,不再收取升级费用;
3. 保修条款
3.1. 仪器设备自验收合格之日起免费保修1年;
3.2. 免费保修期内,维修相关费用全免;
4. 技术服务的响应期限:提供*有效的技术服务,在接到用户故障信息后,4小时内响应;如有必要,12~72个小时内派人上门维修和排除故障。
薄膜镀层测厚仪价格

问:XRF镀层测厚仪的原理是什么?
答:1、原理:X射线照射样品,经过镀层界面,射线返回的信号发生突变,根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难(信号分不开)。
2、XRF镀层测厚仪:
俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。
功能:精密测量金属电镀层的厚度。
应用范围:测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22(Ti)到92(U)。
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