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本测试系统用于铁电体的铁电性能测量，可用于铁电体的研究，也可作为近代物理实验中的固体物理实验设备，同时可作为工业化生产铁电存储器的铁电性能检测设备。该铁电性能测量系统不仅能画出铁电薄膜的电滞回线，还可以定量得到铁电薄膜材料的饱和极化Ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流等参数，还可以进行铁电薄膜材料的铁电疲劳性能、铁电保持性能的测试。能够较全面准确地测量铁电薄膜的铁电性能。该系统配铁电高压模块和铁电高压驱动模块，可测量陶瓷材料的铁电性能。
仪器采用一体化设计，实现测试结果全数字化，操作简单方便。本测试系统采用虚地模式测量电路，与传统的Sawyer-Tower模式相比，此电路取消了外接电容，可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度仅取决于仪器内部的器件精度，比较容易定标和校准，并且能实现较高的测量准确度。
特 点：
1.电滞回线测量，可以画出电滞回线及得到铁电材料的饱和极化±Ps、 剩余极化±Pr、矫顽场±Ec、电容量C等参数。
2.铁电疲劳性能测量。
3.铁电保持性能测试。
4.电阻测量。
5.漏电流测量。
6.高精度三维移动平台。
7.耐高压样品池。
技术指标：
1.输出信号电压：薄膜：0～±10V 陶瓷材料：0～±2000V
2.输出信号频率：薄膜材料10Hz/20Hz/50Hz/ 100Hz/ 200Hz/ 500Hz/ 1000Hz/ 陶瓷：1Hz
3.电流增益：薄膜：1,10,100 陶瓷：0.01,0.05,0.1,0.5
4.积分电容：1000nf，10nf
可做漏电流测量，饱和极化、剩余极化、矫顽电压测量，可进行疲劳测试和保持测试，操作简便。
仪器采用一体化设计，实现测试结果全数字化，操作简单方便。本测试系统采用虚地模式测量电路，与传统的Sawyer-Tower模式相比，此电路取消了外接电容，可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度仅取决于仪器内部的器件精度，比较容易定标和校准，并且能实现较高的测量准确度。
特 点：
1.电滞回线测量，可以画出电滞回线及得到铁电材料的饱和极化±Ps、 剩余极化±Pr、矫顽场±Ec、电容量C等参数。
2.铁电疲劳性能测量。
3.铁电保持性能测试。
4.电阻测量。
5.漏电流测量。
6.高精度三维移动平台。
7.耐高压样品池。
技术指标：
1.输出信号电压：薄膜：0～±10V 陶瓷材料：0～±2000V
2.输出信号频率：薄膜材料10Hz/20Hz/50Hz/ 100Hz/ 200Hz/ 500Hz/ 1000Hz/ 陶瓷：1Hz
3.电流增益：薄膜：1,10,100 陶瓷：0.01,0.05,0.1,0.5
4.积分电容：1000nf，10nf
可做漏电流测量，饱和极化、剩余极化、矫顽电压测量，可进行疲劳测试和保持测试，操作简便。
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