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GWP-全自动硅片内部缺陷检测设备

单价(¥): 1.00

品牌: 无

规格: GWP

库存: 100

最小起订量: ≥1台

发布日期: 2024年3月5日

联系人: 俞珩

手机号码: 16775717571

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可对应硅片的内部缺陷检测。

【内部检测】:当线性光照射硅片时，会穿透硅片。如果硅片内部有PIN HOLE则会减少透光量。通过测量透光量来检测硅片内部的缺陷。

【缺陷种类】：PIN HOLE
【生产能力】；每片检测快只需 25S
【菜单功能】：可编辑检测菜单，并进行参数保存与导出
【检测范围】：除边缘2mm
【检测对象】：8~12寸抛光片&外延片

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